產品特色
- 由2~12吋晶圓+熱電偶組成(TC Wafer)
- 準確量測設備平台溫度
- 多點分布量測設備均溫性(1~34ea)/升溫速率可達35℃/S
- 溫度範圍: -200~1250℃
- 經由國際實驗室(ILAC)授權之第三單位實驗室依照TAF/ANAB做為校驗標準
- 彈性化客製
- 數據可透過有/無線紀錄器傳輸至PC端
- ILAC / ANAB Certification Service
- 第三方實驗室為擁有 50 多年的知識和經驗，利用由 ISO 17025 認證的 NIST 可追溯校準實驗室和支援辦公室組成的全球網路。
- 並通過行業領先的校準服務和解決方案簡化您的校準工作流程。
- 為您量身訂做的溫度量測工具，為您的產品品質把關。
- 我們擁有專業開發團隊，豐富製程經驗，專業量測工具驗證與製作。
